Name: Fondamenti e applicazioni della microscopia a forza atomica (in Italian)
Price: 36.21 USD
Availability: InStock
Author: Solanki, Vanarajsinh ; Dasadiya, Abhay ; Mishra, Pramita
ISBN: 9786204698052

portada Fondamenti e applicazioni della microscopia a forza atomica (in Italian)

Type

Physical Book

Author

Publisher

Language

Italiano

Pages

Format

Paperback

Dimensions

22.9 x 15.2 x 0.3 cm

Weight

0.09 kg.

ISBN13

9786204698052

Synopsis "Fondamenti e applicazioni della microscopia a forza atomica (in Italian)"

Questo libro si concentra sul principio di funzionamento dell'AFM, le sue diverse modalità (cioè, contatto, non contatto e tapping), l'analisi di alcuni risultati AFM e anche alcune applicazioni. Questo libro sottolinea anche le caratteristiche dell'AFM come strumento morfologico altamente versatile e utile per la scansione di una grande varietà di superfici, con una risoluzione planare che va da nano -metro sclae fino alla scala atomica. Speriamo che questo libro possa essere utile al ricercatore e allo studente per comprendere il concetto di base dell'AFM e per eseguire con esso diversi tipi di campioni.

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